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안녕하세요. 🤗
임베디드 소프트웨어 전문 기업, MDS인텔리전스입니다.
이번 포스팅에서는 임베디드 소프트웨어 개발시, 동적 시험의 통합 테스트 방법론에 대해 알려드리겠습니다.
통합 시험이란
소프트웨어 통합 시험은 단위 시험이 완료된 소프트웨어를 결합하여 시험하는 방법으로 단위 테스트의 모듈 단위를 더 큰 단위로 통합하고 상호간의 동작을 시험하는 단계입니다.
통합시험 방법론으로는 빅뱅(Big bang), 상향식(Bottom up), 하향식(Top down) 이 있습니다.
빅뱅(Big Bang Integration Test)
빅뱅은 모든 테스트 모듈을 동시에 통합하여 수행하는 방법입니다.
모듈 트리구조의 최상단에서 테스트를 수행하는 방식으로 단시간에 테스트가 가능하다는 장점이 있지만 결함을 찾기가 모호하다는 단점이 존재합니다. 대부분 설계 문서가 없는 경우에 많이 사용하는 방식입니다.
상향식 통합 테스트(Bottom Up Integration Test)
상향식은 모듈 트리구조에서 하부 모듈부터 통합하여 수행하는 방식입니다.
테스트 드라이버가 필요하며, 가장 낮은 단위의 구성요소들을 테스트하며 통합해 나가는 테스트 방법입니다.
계층의 최상위 요소가 테스트 될 때까지 반복하는 방식으로, 하부에서 결합을 찾기 쉽지만 수정이 어려운 결함을 상부에서 찾을 경우가 높은 단점이 있습니다.
상향식 통합 테스트 접근 방식
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하향식 통합 테스트(Top Down Integration Test)
하향식은 모듈 트리구조에서 가장 상부에서부터 모듈을 통합하며 테스트 수행하는 방식입니다.
테스트 스텁이 필요하며, 최상위 구성요소를 테스트하고, 각 하위의 구성요소들을 테스트하는 방법입니다.
연관된 마지막 모듈이 모두 테스트 될 떄까지 반복하며, 설계 단계의 결함을 빨리 찾을 있어 가장 많이 사용하는 통합 검증 방법론 입니다.
하향식은 Driver를 통해 하위에서 테스트를 진행하며, 아래와 같이 테스트를 수행 할 수 있습니다.
하향식 통합 테스트 접근 방식
이러한 방법론을 통해 통합시험을 진행하며, 테스트 중 발견한 결함을 기록하는 활동의 결함관리, 테스트 결과를 문서화하고 보고하는 동적검증이 수행됩니다.
지금까지 통합 테스트방법론에 대해 알아보았습니다.
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